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                CTT3280F测试机
                 

                CTT3280F测试系统是以量♂产功率半导体分立器件为目标的高性能集成电路测试机,可适应于功率器件的芯片测试和成品测试,主要测试品种包括MOS、二极管、三极管等三端器件。通过与主机向连接的测试头连到针卡,实现16 site的并测硬件结ξ 构,主要用于◇多site芯片并测。

                系统的主要特点如下:

                1、PC通过PCI卡与测试机数据交换;

                2、采用双层机架,最多可以配13块模块;

                3、整机测』试规格为1000V/10A,最大支持16 SITE全︽参数并行测试;

                4、DUT盒通过3米长导线与主机相连;

                5、常规配置1个DUT,可并测8个管芯,最大可配置2个DUT,最大可并测16个管芯;

                6、配GPIB接口,可与UF200等主流探针台进行联机测试;

                7、测试机电源由软件控↑制,具有自我保护功能;

                8、板载校准⊙数据确保模块自身系统精度;

                9、每个ㄨ源独立AD/DA提升了系统的测试速度;

                10、Windows 7操作系统,C/C++环境编程,VS2015编程平台;

                11、软件界面以填表方式提供用ぷ户测试参数设〖置界面,并提⌒ 供单项参数调试功能;

                12、DUT盒标配CHK板进行自检校ω准校验;

                13、支持ACCESS 、EXCEL 、CSV、STDF四种数据保存♂格式;

                14、通过系统设置可以满足不同客户的特殊要求;

                15、具有防呆功能】,对不具备测试条件的信息能自动『报◥警并停止█测试;

                16、允许用户自己定义系统功能模块的权限。

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